Description de l'évènement :
Du 19 au 21 septembre 2017, le CETIAT co-organise le CIM 2017 qui rassemblera tous les acteurs du monde de la mesure autour du thème « Mesurer pour inventer le futur ». L’événement présentera ainsi les techniques de mesure et leurs évolutions, la maîtrise des processus de mesure, d’analyse et d’essais mais aussi les perspectives et nouveautés du secteur. Le CIM 2017 est organisé conjointement avec ENOVA Paris, le salon de référence des technologies électroniques, mesures, visions et optiques. A cette occasion, le CETIAT présentera sur son stand (E31) ses services et ses nouveautés en étalonnage.
Informations pratiques : Parc des Expositions de la Porte de Versailles
> Informations sur www.cim2017.com